Содержание страницы
15–16 октября в отеле «Вега — Измайлово», Москва состоялась
Техническая конференция «GLOBAL TECHNOLOGY— GT 2025»,
организованная компаниями «Глобал Инжиниринг» и «Глобал Микроэлектроника».
Этой конференцией мы открыли цикл мероприятий, посвященных трендам в области производства радиоэлектроники и актуальным вопросам повышения конкурентоспособности на постоянно меняющемся рынке.
14
Докладчиков
200+
Участников
57
Предприятий
По итогам конференции можно сделать вывод, что понимание основ техпроцесса по прежнему актуально для специалистов отрасли и останется таковым еще долгие годы. Вопросы практического применения полученных знаний и обмен опытом специалистов разных предприятий — это безусловная ценность для всех участников.
За два полных дня Конференции, получившей название «Global Technology — 2025», был рассмотрен ряд технических вопросов, по которым выступили с докладами профильные специалисты нескольких компаний. Список тем смотрите ниже.
ДЕНЬ ПЕРВЫЙ
Ключевые аспекты современного производства электроники.
ДЕНЬ ВТОРОЙ
Микроэлектронные технологии в современном использовании.
Материалы и методы высокой точности.

Участники конференции активно обсуждали

широкий спектр технологических процессов:

  • Проблемы проектирования печатных плат
    Совместимость дизайна с возможностями сборки при необходимости контроля над качеством материалов и соблюдения стандартов DFM (Design for Manufacturability).
  • Микроэлектронные технологии
    Вакуумная пайка для GaN и СВЧ‑транзисторов. Современные методы монтажа кристаллов для повышения эффективности и надежности микроэлектронных устройств
  • Технологические решения в области пайки
    Выбор между волновой и селективной пайкой, повышение надежности с помощью пайки в вакууме, организационные и технологические тонкости монтажа сложных плат.
  • Материалы и методы высокой точности
    Современные материалы. Проблемы производства высокоточных изделий. Обработка сверхтвёрдых материалов для мощных и силовых приборов.
  • Контроль качества выпускаемой продукции
    Автоматизированные системы тестирования с искусственным интеллектом и машинным зрением; маркировка изделий; интеграция результатов в централизованные системы учета.
  • Дефектоскопия
    Комплексные испытания, методы выявления дефектов на всех этапах производства электроники — от микроскопии до рентгеновского контроля с автоматизированным анализом данных.
Отзывы участников
Больше всего порадовало, что это была именно технологическая конференция,
а не выставка-продажа! Никакой рекламы, только сухой анализ, производственные вопросы и экспертиза. Все спикеры, включая ребят из «Глобала», — настоящие профи, которые делились реальными знаниями, а не презентациями. Очень ценно!
Считаю, что конференции имеют большое значение не только для знакомства
с новыми технологиями, но они также помогают развить общую компетентность
и повысить осведомленность в профессиональной сфере.
Конференция организована прекрасно! Живая и интересная подача сложных тем
с актуальными и познавательными докладами. Спасибо организаторам! Регистрация на сайте не совсем понятно работала. Кажется, что регистрировался раза три.
Но конференцию посетил в единственном числе )). Было интересно!
Мероприятие прошло отлично, и по технической части, и с точки зрения организации. Было здорово пообщаться с профессионалами из разных сфер микроэлектронного производства.
Выражаем огромную благодарность
всем участникам мероприятия.
Ждём вас в нашем офисе / демо-зале
и на новых мероприятиях.
Единая телефонная линия: +7 495 980 08 19
E-mail: info@global-smt.ru